高低溫沖擊試驗(yàn)箱的執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

高低溫沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)不可少的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn):

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；

GB/T 2423.22-2002溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

GJB150.3A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB 150.5A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

GJB367.2-1987通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估

QC/T 17-1992 汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車(chē)行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;